YB/T 4462-2015 高纯硅铁硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

显示全部楼层 · 发表于 2021-11-3 21:59:31

本标准规定了用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定高纯硅铁中硼的含量。
本标准适用于高纯硅铁中硼含量的测定。测定范围（质量分数）：0.001%～0.010%。
标准编号：YB/T 4462-2015
标准名称：高纯硅铁硼含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称：High purity ferrosilicon——Determination of boron content——Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：9页
文件大小：2.26MB

标准全文下载：

YBT 4462-2015.pdf (2.26 MB)

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YB/T 4462-2015 高纯硅铁 硼含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

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