标准编号：YS/T 1164-2016
标准名称：硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称：Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
标准状态：现行
起草单位：亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司
起草人员：王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、张云晖、张园园、邱艳梅
文件大小：231.62KB
文件格式：PDF
文件页数：6页
发表于 2021-12-10 21:08:20
