本规程适用于接触式，测量范围在10ˇ－３Ω·cm～10ˇ３Ω·cm的四探针电阻率测试仪的首次检定，后续检定和使用中检验。对某些多功能的四探针电阻率测试仪或只能测量方块电阻四探针测试仪也同样适用。方块电阻的测量范围在10ˇ－２Ω/□～10ˇ４Ω/□。
本规程不适用于二探针、三探针、六探针及方型四探针电阻率测试仪的检定。
标准编号：JJG 508-2004
标准名称：四探针电阻率测试仪检定规程
英文名称：Resistivity Measuring Instruments with Four-Probe Array Method
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2004-09-21
实施日期：2005-03-21
替代情况：替代JJG 508-1987
起草单位：中国计量科学研究院
起草人员：鲁效明
文件大小：439.81KB
文件格式：PDF
文件页数：19页
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