本规程适用于量程不大于2000μm、分辨力为1nm~05μm的电容式测微仪的首次检定、后续检定和使用中检验。
标准编号:JJG 570-2006
标准名称:电容式测微仪检定规程
英文名称:Capacitance Comparators
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2006-03-08
实施日期:2006-09-08
替代情况:替代JJG 570-1988
起草单位:河南省计量科学研究院、天津大学
起草人员:任方平、黄玉珠、贾晓杰、郑义忠
文件大小:682.74KB
文件格式:PDF
文件页数:15页
标准全文下载:
封面截图如下:
 |
声明:
1、内容来自用户上传,仅供会员交流学习,禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除;
2、如涉及侵权问题,请立即告知本站(std_123@foxmail.com),本站将及时删除并致以最深的歉意;