本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。
标准编号：JJG 1015-2006
标准名称：通用数字集成电路测试系统
英文名称：General Digital Integrated Circuit Testing System
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2006-12-08
实施日期：2007-03-08
起草单位：信息产业部电子工业标准化研究所
起草人员：陈大为、吴京燕
文件大小：394.46KB
文件格式：PDF
文件页数：17页
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