本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。
标准编号：JJF 1236-2010
标准名称：半导体管特性图示仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
起草单位：中国电子技术标准化研究所
起草人员：陈连启、于利红、刘冲
文件大小：492.60KB
文件格式：PDF
文件页数：25页
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