本规范适用于分辨力为0.1 μm、0.2 μm、0.5 μm和1 μm,量程0 mm至1 000 mm的数显测高仪的校准。
标准编号：JJF 1254-2010
标准名称：数显测高仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Height Measuring Instrument with Digital Display
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2010-05-11
实施日期：2010-11-11
替代情况：替代JJG 929-1998
起草单位：中国科学院光电技术研究所
起草人员：匡龙、耿丽红、曹学东
文件大小：331.72KB
文件格式：PDF
文件页数：12页
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