JB/T 10034-2012 光栅角位移测量系统

显示全部楼层 · 发表于 2022-8-14 14:46:22

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。
本标准适用于分辨力为0.1″、0.2″、0.5″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±0.25″级、±0.5″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10"级和士 20 “级的光栅角位移测量系统（以下简称“测量系统” ）。

标准编号：JB/T 10034-2012
标准名称：光栅角位移测量系统
英文名称：Grating angular displacement measuring system
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2012-05-24
实施日期：2012-11-01
标准状态：现行
替代情况：替代JB/T 10034-1999
起草单位：四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司、成都工具研究所、广州市诺信数字测控设各有限公司、廊坊开发区莱格光电仪器有限公司
文件大小：521.11KB
文件格式：PDF
文件页数：15页

标准全文下载：

JBT 10034-2012 光栅角位移测量系统.pdf (521.11 KB)

封面截图如下：

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