本标准规定了半导体器件（以下简称器件）单粒子效应的试验目的、要求和程序等。
本标准适用于重离子辐照引起的器件单粒子翻转、单粒子锁定试验。
标准编号：GJB 7242-2011
标准名称：单粒子效应试验方法和程序
英文名称：Test methods and procedures for single-event effects
发布部门：总装
发布日期：2011-01-20
实施日期：2011-04-01
起草单位：信息产业部电子四所、北京圣涛平试验工程技术研究院、航天科技集团公司第五研究院、信息产业部电子五所、西北核技术研究所
起草人员：周俊、于庆奎、陈冬梅、郭红霞、曹洲、师谦、陈宇、阳辉、李锟、王宝友
文件格式：PDF
文件页数：14页
文件大小：420.64KB
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