本标准规定了按选定的置信度确定和维持失效率等级的抽样方案，以及失效率等级的鉴定和批一致性检验程序。
本标准规定的表格和数值以指数分布作依据，某些元件（如电容器）允许以威布尔分布作依据，但需经鉴定机构批准。电子元件的设计应基本相同，生产应基本连续，生产工艺控制应符合GJB 546《电子元器件质量保证大纲》的规定。
本标准适用于有失效率等级的军用电子元件产品规范中规定的失效率试验。
标准编号：GJB 2649A-2011
标准名称：军用电子元件失效率抽样方案和程序
英文名称：Failure rate sampling plans and procedures for military electronic component parts
发布部门：总装
发布日期：2011-12-25
实施日期：2012-04-01
起草单位：工业和信息化部电子第四研究所
起草人员：周俊、史信源、张玉芹、王宝友
文件格式：PDF
文件页数：33页
文件大小：2.29MB
标准全文下载：
该附件已被删除或屏蔽，无法下载！
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
