本标准规定了半导体管特性图示仪校准仪（以下简称“校准仪”）的术语和定义、技术要求和测量方法。
本标准适用于直流电压源输出范围不超过0.01V~5000V直流电流源输出范围不超过10 nA~10A，取样电阻标称范围不超过0.005Ω~10MΩ,阶梯电压归一化变换范围不超过0.1V~20V，阶梯电流归一化变换范围不超过10μA~20A，阶梯电压表测量范围不超过0.01V/阶～10V/阶，阶梯电流表测量范围不超过 0.1 μA/阶~10A/阶，脉冲电流表测量范围不超过10A~1000 A 的校准仪。
标准编号：SJ/T 11777-2021
标准名称：半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法
英文名称：Technology requirements and test methods for curve tracers calibrators
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2021-03-05
实施日期：2021-06-01
起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司
文件格式：PDF
文件页数：13页
文件大小：5.26MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
