标准编号：DB13/T 5695-2023
标准名称：GaN HEMT射频器件陷阱效应测试方法
发布部门：河北省市场监督管理局
发布日期：2023-05-06
实施日期：2023-06-06
起草单位：河北博威集成电路有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所等
文件格式：PDF
文件页数：12页
文件大小：912.86KB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
