GB/T 4937.23-2023 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命

显示全部楼层 · 发表于 2023-6-21 15:35:37

本文件描述了随时间的推移，偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作，主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼，可用于筛选试验中剔除早期失效产品。
本文件未规定老炼的详细要求和应用。
标准编号：GB/T 4937.23-2023
标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命
英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 23:High temperature operating life
发布部门：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布日期：2023-05-23
实施日期：2023-12-01
标准状态：现行/即将实施
起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、池州信安电子科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、广东科信电子有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司
起草人员：冉红雷、张魁、张忠祥、黄杰、彭浩、魏兵、尹丽晶、徐昕、柯汉忠、颜天宝、刘银燕
文件格式：PDF
文件页数：11页
文件大小：3.12MB

标准全文下载：

GBT 4937.23-2023.pdf (3.12 MB)

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GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命

GB/T 4937.23-2023 半导体器件机械和气候试验方法第23部分：高温工作寿命