GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法

显示全部楼层 · 发表于 2023-8-22 13:03:30

本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。
本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。

标准编号：GB/T 42838-2023
标准名称：半导体集成电路霍尔电路测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
发布部门：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
标准状态：现行
起草单位：中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
起草人员：尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广
文件大小：740.69KB
文件格式：PDF
文件页数：13页

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GBT 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法.pdf (740.69 KB)

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GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法

GB/T 42838-2023 半导体集成电路霍尔电路测试方法