本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。
本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
标准编号：GB/T 42848-2023
标准名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
英文名称：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
起草人员：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
文件大小：2.04MB
文件格式：PDF
文件页数：31页
标准全文下载：
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
