本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。
本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
标准编号：GB/T 42848-2023
标准名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
英文名称：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
标准状态：现行
起草单位：成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院
起草人员：何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟
文件大小：2.04MB
文件格式：PDF
文件页数：31页
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GBT 42848-2023.pdf
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发表于 2023-8-22 13:26:10