本文件规定了对半导体紫外发射二极管辐射度参数的一般要求，包括测试条件、仪器设备、测试步骤。
本部分适用于峰值波长 200nm ～ 400nm 的器件， 峰值波长
400nm～420nm 的器件可参照本部分执行。
标准编号：SJ/T 11818.1-2022
标准名称：半导体紫外发射二极管第 1 部分：测试方法
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2022-09-30
实施日期：2023-01-01
文件大小：4.92MB
文件格式：PDF
文件页数：14页
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