本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分（TDI)CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。
本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
标准编号：GB/T 43063-2023
标准名称：集成电路 CMOS图像传感器测试方法
英文名称：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
起草单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司
起草人员：李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟
文件大小：3.02MB
文件格式：PDF
文件页数：33页
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