本文件描述了超导条带光子探测器（SSPD）的性能参数之一暗计数率（DCR或RD）的测量，以及随偏置电流（Ib）和工作温度（T）变化关系的暗计数率的测试方法。界定了暗计数率相关的术语、定义、符号。
本文件适用于各种材料和结构的超导条带光子探测器的暗计数测量。
标准编号：GB/T 42747-2023
标准名称：超导条带光子探测器 暗计数率
英文名称：Superconducting strip photon detector—Dark count rate
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2023-05-23
实施日期：2023-12-01
起草单位：中国科学院上海微系统与信息技术研究所、赋同量子科技(浙江)有限公司、中国科学院物理研究所、南京大学、天津大学
起草人员：杨晓燕、尤立星、黄佳、张成俊、郑东宁、张蜡宝、胡小龙
文件大小：2.79MB
文件格式：PDF
文件页数：19页
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