本文件规定了终端上通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的测试方法，主要包括：电气特性、初始通信协议的建立、性能测试和功能测试。
本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。
标准编号：YD/T 3037.1-2023
标准名称：通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2023-12-20
实施日期：2024-04-01
标准状态：现行
替代情况：替代YD/T 3037.1-2016
起草单位：中国信息通信研究院,博鼎实华（北京）技术有限公司,中国移动通信集团有限公司,中国联合网络通信集团有限公司,中国电信集团有限公司,紫光国芯微电子股份有限公司，北京中电华大电子设计有限责任公司
起草人员：郑海霞、张苒、马凡、朱岩、邓建国、刘煜、乐祖辉、陈国华、王诗俊、刘斌、彭程、杨剑、赵敬超、何明、霍航宇、李建龙、王余、张炳楠、裴佳裕
文件大小：7.16MB
文件格式：PDF
文件页数：45页
标准全文下载：
YDT 3037.1-2023.pdf
(7.16 MB)
封面截图如下：
 |
|
发表于 2024-4-30 17:24:01