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T/BEA 43010-2024 封装电子材料真空放气率检测规范

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发表于 2024-12-6 13:45:03 | 显示全部楼层 |阅读模式
1.1  主题内容本文件规定了封装电子材料在真空条件下放气率的检测用设备、计量特性、检测原理、检测步骤和检测结果的处理。1.2  适用范围本文件适用于固定流导法、对称结构流导法测量材料放气流量(对于能确定表面积的样品,检测项目为材料放气率),其中固定流导法测量范围为(1×10-5~ 1×10-8)Pa·m3/s,对称结构流导法的测量范围为(1×10-8~1×10-11)Pa·m3/s。

标准编号:T/BEA 43010-2024
标准名称:封装电子材料真空放气率检测规范
英文名称:Test specification for vacuum outgassing rate of encapsulated electronic materials
发布部门:北京电子仪器行业协会
发布日期:2024-09-13
实施日期:2024-09-23
标准状态:现行
起草单位:北京东方计量测试研究所、中国科学院合肥物质科学研究院等离子体物理研究所
起草人员:杨传森、陈俊儒、宋春尧、胡晓月、丁双、胡庆生、卢耀文、王欢、郭宇扬、陈千睿、朱振良
文件大小:454.93KB
文件格式:PDF
文件页数:13页

标准全文下载:
TBEA 43010-2024 封装电子材料真空放气率检测规范.pdf (454.93 KB)

封面截图如下:
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