T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

显示全部楼层 · 发表于 2024-12-13 02:23:20

本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。

标准编号：T/HBAI 001-2024
标准名称：有机发光二极管显示器表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
英文名称：Organic light emitting diode displays – Quantitative evaluation methods of surface Mura
发布部门：湖北省人工智能学会
发布日期：2024-10-17
实施日期：2024-10-25
标准状态：现行
起草单位：华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司
起草人员：杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚
文件大小：2.15MB
文件格式：PDF
文件页数：20页

标准全文下载：

THBAI 001-2024.pdf (2.15 MB)

封面截图如下：

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T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器表面云纹 (Mura)缺陷量化方法