本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。
本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
标准编号：DB51/T 3207-2024
标准名称：集成电路测试用微波探针应用规范
发布部门：四川省市场监督管理局
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
文件大小：309.73KB
文件格式：PDF
文件页数：10页
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