本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。 本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。
标准编号：T/CSP 13-2024
标准名称：颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法
英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy
发布部门：中国颗粒学会
发布日期：2024-11-18
实施日期：2024-11-25
起草单位：国家纳米科学中心、国标（北京）检验认证有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）、中国颗粒学会、北京粉体技术协会
起草人员：常怀秋、李婷、白露、杜志伟、齐笑迎、贾荣光、朱晓阳、韩小磊、车聪、高原、郎爽、毛璐、周素红
文件大小：588.00KB
文件格式：PDF
文件页数：12页
标准全文下载：
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
