本文件描述了开展宇航用半导体器件（以下简称“器件”）在轨单粒子翻转率预计的方法，包括原理、流程、空间带电粒子LET 谱和质子能谱计算、辐照试验数据处理分析和单粒子翻转率预计等。
本文件适用于空间自然辐射环境中的质子和重离子引发器件单粒子翻转率的预计。单粒子功能中断等其他类型单粒子事件率预计参考使用。
本文件不适用于高能电子引发的单粒子翻转率的预计。
标准编号：GB/T 44181-2024
标准名称：空间环境 宇航用半导体器件在轨单粒子翻转率预计方法
英文名称：Space environment—Method of single event upset rates prediction of semiconductor devices for space applications
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2024-07-24
实施日期：2024-07-24
起草单位：中国空间技术研究院、国防科技大学、哈尔滨工业大学、北京微电子技术研究所、中国科学院国家空间科学中心
起草人员：孙毅、张洪伟、梅博、莫日根、于庆奎、魏志超、曹爽、唐民、朱恒静、黄金英、梁斌、李昌宏、韩建伟、王天琦、马英起、郑宏超
文件大小：764.93KB
文件格式：PDF
文件页数：19页
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