本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法，主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。
本文件适用于使用探针式表面轮廓仪（以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5 nm～105 nm的打印显示薄膜均匀性的测试。
标准编号：GB/T 44390-2024
标准名称：打印显示 薄膜均匀性测试方法
英文名称：Print display—Measuring method of film uniformity
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2024-08-23
实施日期：2025-03-01
标准状态：现行/即将实施
起草单位：京东方科技集团股份有限公司、奥来德（上海）光电材料科技有限公司、北京鼎材科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、合肥京东方卓印科技有限公司、合肥鼎材科技有限公司、TCL华星光电技术有限公司、江阴润玛电子材料股份有限公司、广东东溢新材料科技有限公司、广东聚华印刷显示技术有限公司、深圳御光新材料有限公司、衢州英特高分子材料有限公司、绍兴旭源新材料科技有限公司
起草人员：张志刚、杨京龙、李新国、徐晓光、马晓宇、代青、毕岩、孙力、施槐庭、黄瑜、曹可慰、吴怡然、赵俊莎、汪康、王铁、包金豹、乔娟、高文正、戈烨铭、何珂、周辉、陈建平、付东、余磊、黄卫东、朱龙山、袁鹏、王霞
文件大小：2.02MB
文件格式：PDF
文件页数：19页
标准全文下载：
GBT 44390-2024 打印显示 薄膜均匀性测试方法.pdf
(2.02 MB)
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(qbw86@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
发表于 2025-2-10 12:36:40