本文件规定了聚焦离子束法制备透射电镜试样的仪器设备、环境与样品要求、试样制备和试验记录。
本文件适用于金属材料,半导体、矿物等无机非金属材料及高分子材料等固态材料的透射电镜试样制备。
本文件适用于各种类型的聚焦离子束场发射扫描电镜双束系统,单束系统和多束系统参照执行。
标准编号：GB/T 45459-2025
标准名称：微束分析 聚焦离子束 透射电镜试样制备方法
英文名称：Microbeam analysis—Focused ion beam—Preparation of TEM specimens
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-03-28
实施日期：2025-10-01
标准状态：现行/即将实施
起草单位：北京科技大学、天津大学、南京大学、首钢集团有限公司、上海交通大学、哈尔滨工业大学
起草人员：乔祎、徐宗伟、邓昱、孟杨、王英、王荣明、邹永纯、尤力、朱玉辰
文件大小：2.95MB
文件格式：PDF
文件页数：19页
标准全文下载：
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发表于 2025-4-18 21:57:05