本文件规定了采用密码技术的射频识别标签模块产品的分类和密码检测的检测内容、检测要求以及判定准则。
本文件适用于包括高频,超高频,微波等频段的射频识别标签模块的密码及安全功能检测。
标准编号：GM/T 0040-2024
标准名称：射频识别标签模块密码检测规范
发布部门：国家密码管理局
发布日期：2024-12-27
实施日期：2025-07-01
替代情况：替代GM/T 0040-2015
起草单位：华大恒芯科技有限公司、商用密码检测认证中心、苏州安超微电子有限公司、紫光同芯微电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、航天信息股份有限公司、国民技术股份有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、上海华申智能卡应用系统有限责任公司
起草人员：张建平、周建锁、雷银花、毛颖颖、陈小庆、杨贤伟、邵波、柳逊、孙磊、董浩然、罗鹏、兰天、费渡、莫凡、邓开勇、顾震、刘颖、岳超
文件大小：295.58KB
文件格式：PDF
文件页数：23页
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