T/CPIA 0144-2025 多晶硅表面微尘的测定浊度计法

发表于 2025-11-28 23:55:47 | 显示全部楼层 |阅读模式

本文件规定了多晶硅表面微尘的方法原理、试剂和材料、仪器设备等测定。
本文件适用于多晶硅破碎后表面微尘浊度的测定,检测下限为0.1 NTU。

标准编号：T/CPIA 0144-2025
标准名称：多晶硅表面微尘的测定浊度计法
发布部门：中国光伏行业协会
发布日期：2025-11-15
实施日期：2025-11-30
文档格式：PDF
文档页数：9页
文档大小：212.66KB

标准全文下载：

TCPIA 0144-2025 多晶硅表面微尘的测定浊度计法.pdf (212.66 KB)

封面截图如下：

T_CPIA

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