本标准规定了晶体硅太阳电池热斑耐久性能的试验原理、仪器设备、试验步骤和试验结果等。
本标准适用于单晶硅、多晶硅太阳电池，也可用于经过封装，但电池的电路单独引出的样品。
标准编号：DB32/T 3594-2019
标准名称：晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法
英文名称：Test method for hot-spot endurability of crystalline silicon solar cells
发布部门：江苏省市场监督管理局
发布日期：2019-04-08
实施日期：2019-04-30
起草单位：国家太阳能光伏产品质量监督检验中心、江苏彩虹永能光伏科技有限公司
起草人员：王美娟、胡旦、王亿、钦卫国、周挺
文件大小：525.99KB
文件格式：PDF
文件页数：7页
标准全文下载：
封面截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
