本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。
本文件适用于25nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。
标准编号：GB/T 17722-2026
标准名称：微束分析 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
英文名称：Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2026-01-28
实施日期：2026-08-01
替代情况：替代GB/T 17722-1999
起草单位：中国航发北京航空材料研究院、北京科技大学、中国科学院化学研究所、中国地质科学院矿产资源研究所
起草人员：娄艳芝、柳得橹、王岩华、陈振宇、周剑雄
文件格式：PDF
文件页数：16页
文件大小：1.86 MB
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