本规范适用于温度范围(-10~150)℃、湿度范围(60~100)%RH、压力范围(0~0.5)MPa、延时时间(0~100)h 的半导体器件PCT 老化综合试验系统的校准。
标准编号：JJF(皖) 259-2026
标准名称：半导体器件PCT老化综合试验系统校准规范
发布部门：安徽省市场监督管理局
发布日期：2026-01-09
实施日期：2026-03-01
文件格式：PDF
文件页数：23页
文件大小：2.45 MB
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