本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度(10nm~100nm)的方法。
本文件适用于TEM/STEM 记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X 射线谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10nm~1μm。
本文件不适用于水平投影图形Z 方向大于X 方向、Y 方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒,例如类似海胆状的纳米颗粒。注:主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时,本文件的不确定度将明显增大。
标准编号：GB/T 47182-2026
标准名称：微束分析 分析电子显微术 核壳颗粒壳壁厚度的测量方法
英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining shell thickness of particles with core-shell structure
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2026-02-27
实施日期：2026-09-01
起草单位：北京科技大学、国标（北京）检验认证有限公司、包头稀土研究院、北京化工大学
起草人员：权茂华、柳得橹、贾荣光、任旭东、洪崧、马通达
文件格式：PDF
文件页数：30页
文件大小：6.80 MB
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