本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。
本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
标准编号：GB/Z 107-2025
标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
英文名称：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-12-03
实施日期：1800-01-01
起草单位：中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司
起草人员：万永康、何静、虞勇坚、季伟伟、宋国栋、帅喆、凌勇、印琴、张凯虹、李锟、贺致远、李德建、李飞、常婷婷、苏卡
文件格式：PDF
文件页数：15页
文件大小：5.32 MB
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