DB34/T 3368.4-2019 印制电路板中有害物质分析方法第 4 部分：铅和镉的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法

显示全部楼层 · 发表于 2021-11-17 13:19:33

本部分规定了印制电路板中的铅和镉的电感耦合等离子发射光谱仪检测方法的方法原理、仪器、试
剂及材料、样品制备、分析步骤、结果计算、精密度和报告。
本部分适用于印制电路板中的铅和镉的含量的测定。
铅和镉的方法检出限为 0.0003％。
标准编号：DB34/T 3368.4-2019
标准名称：印制电路板中有害物质分析方法
第 4 部分：铅和镉的测定电感耦
合等离子体原子发射光谱法
发布部门：安徽省市场监督管理局
发布日期：2019-07-01
实施日期：2019-09-01
标准状态：现行
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：164.16KB

标准全文下载：

DB34T 3368.4-2019.pdf (164.16 KB)

		自动登录	找回密码
密码			立即注册

DB34/T 3368.4-2019 印制电路板中有害物质分析方法 第 4 部分：铅和镉的测定 电感耦 合等离子体原子发射光谱法

浏览过的版块

DB34/T 3368.4-2019 印制电路板中有害物质分析方法第 4 部分：铅和镉的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法