本标准规定了静电复印硒鼓膜层附着力的试验方法，其中包括：原理、设备、试样、试验步骤和试验报告。
本标准适用于Se，Se-Te及Ae2Se3等类型硒鼓。
标准编号：JB/T 5533-2007
标准名称：静电复印硒鼓 膜层附着力试验方法
英文名称：Selenium drum for electrostatic copying-Testing method of adhesive force between coating and backing
发布部门：国家发展和改革委员会
发布日期：2007-10-08
实施日期：2008-03-01
替代情况：替代JB/T 5533-1991
起草单位：天津复印技术研究所
文件格式：PDF
文件页数：6页
文件大小：1018.92KB
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