首页贵州省地方标准(DB52)›DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 ...

DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

书童

9 主题	0 回帖	46 积分

贵州省地方标准(DB52) 213 0 2021-8-17 18:43:56

标准编号：DB52/T 1104-2016
标准名称：半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
发布部门：贵州省质量技术监督局
发布日期：2016-04-01
实施日期：2016-10-01
文件格式：PDF
文件页数：18页
文件大小：701.56KB

标准全文下载：

上传的附件：

声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；

返回

		自动登录	找回密码
密码			立即注册