本标准规定了静电复印光导体表面缺陷比对版的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存的要求。
本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的表面缺陷及在印品上对应的印迹缺陷的检测。
标准编号：JB/T 8271-2015
标准名称：静电复印光导体表面缺陷比对版
英文名称：Comparison scale for surface defect of photoconductor of electrostatic copying process
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
替代情况：替代JB/T 8271-1999
起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟）有限公司、佳能（中国）有限公司、无锡佳腾磁性粉有限公司、联想（北京）有限公司、柯尼卡美能达（中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、兄弟（中国）商业有限公司、三星电子（山东）数码打印机有限公司
文件格式：PDF
文件页数：8页
文件大小：1.43MB
标准全文下载：
文档首页截图如下：
 |
声明：
1、内容来自用户上传，仅供会员交流学习，禁止用于商业用途,下载后请在24小时之内删除；
2、如涉及侵权问题，请立即告知本站(std_123@foxmail.com)，本站将及时删除并致以最深的歉意；
