JB/T 12962的本部分规定了能量色散X射线荧光镀层厚度分析仪的术语和定义、测量范围、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本部分适用于采用X射线管为激发源，对镀层厚度进行无损测试的能量色散X射线荧光光谱仪(以下简称仪器)，采用其他激发源的仪器可参照使用。
标准编号：JB/T 12962.3-2016
标准名称：能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
英文名称：Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer一 Part 3: Plating thickness analyzer
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2016-10-22
实施日期：2017-04-01
起草单位：江苏天瑞仪器股份有限公司、南通菲希尔测试仪器有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、牛津仪器(上海)有限公司
文件格式：PDF
文件页数：12页
文件大小：3.23MB
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