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T/ZOIA 3002-2024 硅光电倍增管性能测试方法

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发表于 2024-3-3 19:42:44 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了硅光电倍增管性能测试方法,包括测试目的、测试步骤、测试要求、测量方法等
本文件适用于SiPM性能的测试,与芯片尺寸、像素数目、封装形式无关。

标准编号:T/ZOIA 3002-2024
标准名称:硅光电倍增管性能测试方法
发布部门:中关村光电产业协会
发布日期:2024-02-04
实施日期:2024-02-04
标准状态:现行
起草单位:北京邮电大学、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司、中国科学院高能物理研究所
起草人员:郭霞、胡安琪、李少斌、刘巧莉、张明、王涛、安少辉、韩振杰、钱森、夏江腾、张世凤、任艳玲
文件大小:761.40KB
文件格式:PDF
文件页数:15页

标准全文下载:
TZOIA 3002-2024 硅光电倍增管性能测试方法.pdf (761.4 KB)

封面截图如下:
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