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T/ZOIA 3003-2024 硅光电倍增管可靠性评估方法

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发表于 2024-3-3 19:43:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准界定了硅光电倍增管(Silicon Photomultiplier, SiPM)可靠性评定的一般要求和试验方法。
本标准适用于所有硅光电倍增管的可靠性评估,与芯片尺寸、像素数目、封装形式无关。其他类型的雪崩器件可参照执行。

标准编号:T/ZOIA 3003-2024
标准名称:硅光电倍增管可靠性评估方法
发布部门:中关村光电产业协会
发布日期:2024-02-04
实施日期:2024-02-04
标准状态:现行
起草单位:北京邮电大学、中国科学院半导体研究所、无锡中微晶园电子有限公司、上海联影医疗科技股份有限公司
起草人员:郭霞、刘巧莉、左玉华、刘陶然、胡安琪、李少斌、夏江腾、张明、王涛、安少辉、韩振杰、张世凤、任艳玲、王博
文件大小:888.43KB
文件格式:PDF
文件页数:10页

标准全文下载:
TZOIA 3003-2024 硅光电倍增管可靠性评估方法.pdf (888.43 KB)

封面截图如下:
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